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光电化学发射测试系统 CIMPS-emit

CIMPS-emit系统附加UV-VIS-IR光谱仪来实现光谱分辨率的发射光谱测量。对于整体发射光测量,需另外配NIST追踪标定的光强检测器。CIMPS-emit可自动测量系列光谱,光谱系列对电压、电流、时间变化进行测量,也可对其它物理量变化进行系列测量如:温度、电压和pH等。当然,也可以在控制电化学参数的同时,手动触发测量发射光谱。光谱分析软件包支持单个/多个2D或3D图谱分析,绘制发射、透射、吸收光谱的等高图并以波长的线性坐标或对数坐标显示图形。

产品简介

CIMPS-emit系统附加UV-VIS-IR光谱仪来实现光谱分辨率的发射光谱测量。对于整体发射光测量,需另外配NIST追踪标定的光强检测器。CIMPS-emit可自动测量系列光谱,光谱系列对电压、电流、时间变化进行测量,也可对其它物理量变化进行系列测量如:温度、电压和pH等。当然,也可以在控制电化学参数的同时,手动触发测量发射光谱。光谱分析软件包支持单个/多个2D或3D图谱分析,绘制发射、透射、吸收光谱的等高图并以波长的线性坐标或对数坐标显示图形。

CIMPS-emit 是CIMPS系统的选配件,根据需要选择UV-VIS-IR 光谱仪,NIST可追踪校准传感器及软件。CIMPS-emit用于光致发光和电致发光材料的研究。可以实现光发射时电压电流特性和光谱图。

CIMPS-emit 有两种配置可以选择:

CIMPS-EMIT1: 只有积分功能,建议和 CIMPS-ABS 一起使用

CIMPS-EMIT2: 具有积分和光谱两种功能



光电化学发射测试系统 CIMPS-emit
CIMPS-emit系统附加UV-VIS-IR光谱仪来实现光谱分辨率的发射光谱测量。对于整体发射光测量,需另外配NIST追踪标定的光强检测器。CIMPS-emit可自动测量系列光谱,光谱系列对电压、电流、时间变化进行测量,也可对其它物理量变化进行系列测量如:温度、电压和pH等。当然,也可以在控制电化学参数的同时,手动触发测量发射光谱。光谱分析软件包支持单个/多个2D或3D图谱分析,绘制发射、透射、吸收光谱的等高图并以波长的线性坐标或对数坐标显示图形。
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